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介電常數(shù)測試儀詳細(xì)介紹有時(shí)在超過1000V的電壓下試驗(yàn)，則會(huì)引起一些與電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)無關(guān)的效應(yīng)，對此不予論述。

GB/T1409介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀高頻 Q 表作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)高的160MHz。 LJD-C高頻 Q 表采用了多項(xiàng)技術(shù)： 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能

介電常數(shù)測定儀源頭符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409、GB/T5594 產(chǎn)品用途：固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試 適用材料：橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等 測試范圍：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀（GBT1409-2006）雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量

介電常數(shù)介質(zhì)損耗檢測儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。

自動(dòng)油介質(zhì)損耗及體積電阻率測試儀 高度自動(dòng)化，升溫、測量介損 一次性完成； 符合國標(biāo)GB/T5654-2007 、儀器采用中頻感應(yīng)加熱，PID控溫算法。加熱均勻，控溫好； 、采用*的DSP和FFT技術(shù)，確保數(shù)據(jù)穩(wěn)定、準(zhǔn)確、可靠。 、大屏幕彩色觸摸屏，中文操作菜單，人家對話方便，操作簡潔明了，一目了然。 、設(shè)有高壓保護(hù)開關(guān)和電極杯短路提醒功能，確保人身安全；

絕緣漆介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀是我公司新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制、測量核心，真正實(shí)現(xiàn)了介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測試儀的數(shù)字化，電容、電感、Q值、信號源頻率都在一個(gè)液晶屏上展示出來。在你操作時(shí)，再也不用去注意量程和換算單位。

塑料薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。